Bench Mike Pro離線激光管徑測量儀，高質(zhì)量的測量是測量儀表、測量方法及測試人員有機配合的整體。與傳統(tǒng)的接觸式外形幾何尺寸測量儀表比較，Bench Mike中采用了激光非接觸測量有理，對原始測量數(shù)據(jù)自動采集、處理、數(shù)字顯示等技術，降低了由于測量方法及測量人員造成的誤差。從而提高了整個測量的精度。在某些工業(yè)應用場合中，如產(chǎn)品出廠檢驗中，單位時間內(nèi)須完成大量的測量。此時，在兼顧測量精度的同時，對測量速度提出了高的要求。Bench Mike提供了高速DSP核心處理單元，友好界面的顯示控制軟件及多種接口用于數(shù)據(jù)及通訊，將使用者從繁重的測量中解放出來。
總之，Bench Mike不僅是測量中心，還是一測量數(shù)據(jù)處理品中心，也是一測量數(shù)據(jù)交換中心。其具備的強大功能保證了其可應用于于廣泛的領域，同時也使測量更加簡單，特別需要指出的是對于一些柔軟、易碎、輻射、高精度要求等傳統(tǒng)接觸測量束手無策的被測量任務，Bench Mike可提供滿意的測量。
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測量原理
采用激光掃描原理進行測量，激光發(fā)生裝置產(chǎn)生的激光，照射在馬達驅(qū)動的高速旋轉棱鏡上，通過發(fā)射透鏡組在測試區(qū)間中形成標準掃描平行光束，測試區(qū)間中的被測量物體遮擋光束形成的陰影，會在光電收集端形成信號的階躍，階躍寬度及位置決定了被測量物體的直徑及在測試區(qū)間位置值等參數(shù)。
優(yōu)點
醫(yī)療管Bench
Mike Pro 25MM高精度測徑儀
■測量精度高，測量速度快。使本儀表可滿足不同測量應用領域
■豐富的測量模式滿足不同的測量應用。
■采用了全新數(shù)據(jù)處理技術，圖形用戶交互（GUI）界面、快捷按鍵的使用使測量更直觀、操作更便利。
■內(nèi)含測量應用庫及自編輯被測量功能，配合專門設計的夾具及多種輸入/出口，使儀表具備良好的測量擴充能力。
■單點及雙點自校準功能減少了使用條件的變化對測量的影響，使儀表的維護更方便。
Bench Mike
Pro系列性能指標
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型號
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Bench mike
Pro 25MM
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Bench mike
Pro 50MM
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測試范圍
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0.075-25.4
mm(03006-1.0 in.)
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0.625-50
mm(0.025-2.0 in.)
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復現(xiàn)性誤差*
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0.25 μm
(0.000010 in.)
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0.5μm (± 03000020 in.)
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線性誤差**
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±0.9 μm (± 0.000036 in.)
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±1.5μm (±0.000060 in.)
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測試區(qū)間范圍
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±0.75x25mm(±0.030x1.0in.)
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±1.5x50mm(±0.060x2.0in.)
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掃描光尺寸
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125 μm (0.005
in.)
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250μm (0.010
in.)
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掃描光速率
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50m/sec.(2,000
in./sec.)
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100
m/sec.(4,000 in./sec.)
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使用溫度
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7° to 36° C (45° to 97° F) at < 90% relative humidity
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尺寸(HxWxD)
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254 x 635 x
228 mm (10 x 25 x 9 in.)
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重量
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17 kg(38 lb.)
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顯示
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320 x 240
liquid crystaldisplay; 256 colors
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電源
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100-240 volts
AC (+5% to -10%), 50/60 Hz (+/-2 Hz)100 watts total power
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注：*此數(shù)據(jù)的獲得是通過連續(xù)90次測量值中的*大變化值得出。單次測量值的獲得是取200次單次掃描測量值的平均值，測試時在測試區(qū)間的環(huán)境變化應足夠的小（*小和空氣對流，*小的溫度變化），測試中采用了低膨脹標準件，在測量中標準保持不變。
**線性度誤差在出廠前獲得，測量時環(huán)境溫度為68oF，相對溫度為50%。測試時在測試區(qū)間的環(huán)境變化應足夠的?。?小和空氣對流，*小的溫度變化），測試中采用了低膨脹標準件，在測量中標準保持不變。
